![\"AFM-Cantilever\"](\"\/wp-content\/uploads\/2015\/01\/AFM-Cantilever.jpg\")
<\/a>AFM-Cantilever: Herzst\u00fcck eines jeden AFMs (courtesy: FP7-Project ALBICAN \/ FALCON)<\/p><\/div>\n
Die Bildwiedergabe-Geschwindigkeit von Rasterkraftmikroskopen (AFM) nimmt mit der Resonanzfrequenz des Cantilevers\u00a0in der Regel zu. Die Resonanzfrequenz l\u00e4sst sich, z.B. durch kleinere Cantilever und Wahl geeigneter Materialien, gezielt beeinflussen. Au\u00dferdem verbessern sich dabei insgesamt das Signal-Rausch-Verhalten (SNR) und die Bildqualit\u00e4t sp\u00fcrbar.<\/p>\n
Mit selbst-auslesenden nano3DSense<\/a> Cantilevern l\u00e4sst sich ein weiterer Geschwindigkeitsschub erzielen, der sich sofort in der Leistung bemerkbar macht:\u00a0Durch die Integration der Ausleseeinheit auf dem Cantilever wird keine komplizierte oder starre Laser-Optik mehr ben\u00f6tigt, um das AFM zu betreiben. Statt den tr\u00e4gen Probentisch zu bewegen, wird nur noch der dynamischere Messkopf \u00fcber die Probe gef\u00fchrt. Dabei wird die Architektur von AFM grundlegend vereinfacht und raumsparend neu aufgeteilt. Neben der reduzierten Ger\u00e4tegr\u00f6\u00dfe entf\u00e4llt auch der bei optischen AFM st\u00f6rende Kalibrieraufwand.<\/p>\n Ob z.B. vorteilhaft bei der platzsparenden Integration von AFM in mikroskopische Instrumente, wie dem Elektronenmikroskop (SEM), der leistungshungrigen Untersuchung von biologischen Proben mit Videoraten in F&E, in der hochaufl\u00f6senden Kraftspektroskopie z.B. an Zellen oder Molek\u00fclen oder f\u00fcr die schnelle Wafer- und Masken-Inspektion in der Halbleiterindustrie: mit selbst-auslesenden Cantilevern f\u00fcr AFM auf Basis der nano3DSense<\/a> – Technologie gehen Sie dort auf Nummer sicher, wo traditionelle Verfahren wie Laser und\u00a0Piezoresistoren versagen.<\/p>\n <\/p>\n nano3DSense<\/a> erlaubt es, selbst unter schwierigen Bedingungen an den Cantilever und die Messumgebung, eine leistungsf\u00e4hige und dedizierte Kraftmesstechnik bereitzustellen. Bei Bedarf k\u00f6nnen sogar\u00a0ultrakompakte AFM-Cantilever mit\u00a0konkurrenzlos kleinen Abmessungen von unterhalb 1 Mikrometer (\u00b5m) mit integrierter Kraftsensorik in Vollbr\u00fccke ausgestattet werden.<\/p>\n Dabei spielt es keine Rolle mehr, aus welchem Material der Cantilever aufgebaut ist.\u00a0Verglichen mit herk\u00f6mmlichen piezoresistiven AFM Cantilevern besitzen die neuen Cantilever mit\u00a0nano3DSense<\/a> den Vorteil der Materialunabh\u00e4ngigkeit: das Material des Cantilever kann v\u00f6llig frei den tats\u00e4chlichen Anforderungen angepasst werden. Neben Silizium (Si) stehen z.B. auch SiN, SU8, Stahl und viele andere Werkstoffe zur Verf\u00fcgung, um flexibel und ma\u00dfgeschneidert f\u00fcr jeden Anwendungszweck in Industrie und Forschung den richtigen Weg einzuschlagen. Mit\u00a0nano3DSense<\/a> passt sich der Cantilever, Herzst\u00fcck eines jeden AFM,\u00a0stets perfekt der Messumgebung an – und nicht umgekehrt!<\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\nPionierarbeit f\u00fcr Industrie und Forschung durch\u00a0selbst-auslesende Cantilever mit nano3DSense<\/h3>\n
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